Autorzy: J / Janusz Jaglarz

Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys

Janusz Szewczenko, Janusz Jaglarz, Marcin Basiaga, Jan Kurzyk, Zbigniew Paszenda, artykuł, rozdział, Politechnika Wrocławska, Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (2018)